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昆山AIS50X Series-Multi

線PCBA雙面光學檢測設備(bei),檢測T/B雙面錯漏(lou)反(fan)及焊錫(xi)等缺陷(xian)設備(bei)型(xing)號:AIS501 / AIS501-L設備(bei)原理:通過上(shang)下兩(liang)個高精度相機,對同一(yi)塊板卡(ka)移(yi)動拍照,采取卷積(ji)神經網絡算法處理圖像,智(zhi)能(neng)判定元器件不良和焊錫(xi)不良

全國熱線
詳情介紹

為企業提供全套SMT/AI生產設備及整線解決方案

AIS50X Series-Multi|應用場景

SMT段昆山回流焊后、DIP段昆山波峰焊后、包裝前終檢


AIS50X Series-Multi|可檢測缺陷

AIS50X Series-Multi|設備架構

AIS501

節省人力,可替代終檢前目檢工位

提升品質,包裝前有效卡控,攔截不良,避免流出

可保留包裝前正反面板卡照片,實現數據可追溯

PCBA規格尺寸:

50*50mm~510*460mm(大板模式更大支持730*460mm)


AIS501-L

節省人力,可替代終檢前目檢工位

提升(sheng)品質,包裝前有效卡(ka)控,攔截不良,避免流出

可保留包裝前正反面板卡照片,實現數據可追溯

PCBA規格尺寸:

50*50mm~510*650mm(大板模式(shi)更大支持730*650mm)

AIS50X Series-Multi|核心優勢

AIS50X Series-Multi|深度學習算法

在(zai)工業檢(jian)測領(ling)域(yu)應(ying)用深度學(xue)習算(suan)法,使(shi)用大數(shu)據優化,智(zhi)(zhi)能(neng)極簡編程,一鍵自動識別已訓練元器件及焊錫(xi),智(zhi)(zhi)能(neng)判定不良(liang),解決編程時間長、誤(wu)報率高兩大傳統算(suan)法痛點(dian)

AIS50X Series-Multi|技術優勢

檢出能力強

基于大數據訓練(lian)的模型(xing),元(yuan)器(qi)件(jian)(jian)的識(shi)別準(zhun)確率高,檢出能(neng)力(li)及泛(fan)化(hua)強,能(neng)矯正元(yuan)器(qi)件(jian)(jian)及焊(han)錫

偏差引(yin)起(qi)的報警,降低誤報

針對特征模糊情況,識別能力強。可有效檢出不良,不受板面絲印、器件文字變化干擾

超強同色區分能力,無論是黑色板卡上的黑色器件、黑色器件上的黑色特征、白色板卡上的白色排插及跳線、綠色板卡上的熱敏電阻,均可有效識別漏、反

泛化能力強,能兼容器件偏差、電容歪斜、焊點形態變化、顏色存在細微差異、不規則排列器件等復雜情況,實現低誤報率




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